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介电常数及介质损耗测试仪

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产品名称: 介电常数及介质损耗测试仪
产品型号: SBJDCS-C
产品厂商: 苏博电气
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简单介绍
    

SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

介电常数及介质损耗测试仪 的详细介绍

SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪
仪器介绍
    SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。
技术参数

 SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内*高的160MHz。 SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项优越技术:

  1. 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
  2. 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
  3. 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
  4. 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
  5. 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
  6. DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高**、幅度的高稳定。
  7. 计算机自动修正技术和测试回路*优化 —使测试回路 残余电感减至*低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

  SBJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪的**设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了上乘的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为**,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。

  主要技术特性
Q 值测量范围 2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
工作误差 ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
电感测量范围 4.5nH ~ 140mH
电容直接测量范围 1 ~ 200pF
主电容调节范围 18 ~ 220pF
主电容调节准确度 120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 %
信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz
频率分段 ( 虚拟 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
频率指示误差
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